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泰思肯MIRA通用分析型高分辨場發射掃描電鏡 TESCAN MIRA 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發射電子槍，在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實現了 SEM 成像和實時元素分析。這種結合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數據的過程，從而使得MIRA 成為質量控制、失效分析和實驗室常規材料檢測的有效分析解決方案。《查看更多》

MAGNA新一代超高分辨場發射掃描電鏡《查看更多》

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